优秀论文
H. Luo, G. Li, Y. Xing, J. Zhang and X. Wang, “RelativeRFF: Multi-Antenna Device Identification in Multipath Propagation Scenarios,” in Proc. IEEE Int. Conf. Commun. (ICC), pp. 1-5, May 2023. (CCF-C)
研究进展
多径效应对于射频指纹提取与识别带来很大的干扰,发射机与接收机双方的指纹会影响信道互易性。
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利用多天线设备不同天线链路间的缺陷关系作为射频指纹,利用信道互易性消除多径信道对于射频指纹的影响,在消除信道与接收机指纹的同时,保留发射机指纹,最终实现抗多径信道的射频指纹识别